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              產品詳細頁
              超高分辨場發射掃描電鏡

              超高分辨場發射掃描電鏡

              • 訪問量:1239
              • 更新日期:2023-03-28
              • 產品介紹:Thermo Scientific Apreo 2 SEM超高分辨場發射掃描電鏡搭載的實時元素成像功能和先進的自動光學系統,實現灰色區域解析,讓您不再憂心顯微鏡性能,更加專注于研究本身。
              • 廠商性質:代理商

              產品介紹

              產地類別進口價格區間面議
              儀器種類場發射應用領域化工,石油

              Thermo Scientific Apreo 2 SEM超高分辨場發射掃描電鏡搭載*的實時元素成像功能和先進的自動光學系統,實現灰色區域解析,讓您不再憂心顯微鏡性能,更加專注于研究本身。

              Thermo Scientific Apreo 2 SEM具有多功能性和高質量成像性能,采用了創新性的末級透鏡設計,引入靜電式末級透鏡,支持鏡筒內高分辨率檢測,即使是針對磁性樣品也可實現優良的成像及分析性能。全新Apreo 2 SEM在原有性能基礎之上,新一步優化了超高分辨成像能力,并且增設許多新功能提升其易用性。Apreo 2 SEM在耐用的SEM平臺上引入了SmartAlign(智能對中)技術,不再需要用戶手動進行調整操作,而且,FLASH自動執行精細調節工作,只需移動鼠標幾次,就可以完成必要的透鏡居中、消像散和聚焦矯正。此外,Apreo 2 SEM在10mm分析工作距離下具有1nm分辨率的SEM,遠的工作距離不再意味著低分辨成像,系統還可升級實時元素譜/圖成像功能,幾十年來傳統SEM-EDS固有的元素分析流程,將元素分析效率提升2倍有余。 Apreo 2 SEM,任何用戶都可以輕松地得到分析效果。

               

              ☆ 全面解析

              全面的納米和亞納米分辨率性能,適用于納米顆粒、粉末、催化劑、納米器件、大塊磁性樣品等材料;

               

              ☆ 靈活性

              非常靈活的處理范圍廣泛的樣品類型,包括絕緣體,敏感材料,或磁性樣品,并收集對您的應用重要的數據;

               

              ☆ SmartAlign技術

              使用SmartAlign技術(智能調整光學系統),實現光學系統自動調整,減少維護時間;

               

              ☆ 先進的自動化

              先進的自動化包括FLASH自動圖像微調、撤銷、用戶向導、Maps成像拼接的FLASH技術;

               

              ☆ 實時定量EDS

              元素信息觸手可及,利用ColorSEM技術,提供實時元素面分布成像定量分析,結果獲取更加快速、簡便;

               

              ☆ 標準工作流操作

              內置了User Guidance(用戶工作流)功能,無論是初學者還是經驗豐富,都能夠快速上手,并穩定獲取實驗數據。

               

              Thermo Scientific Apreo 2 SEM超高分辨場發射掃描電鏡參數:

              發射源:高穩定型肖特基場發射電子槍

              分辨率:

              型號

              Apero 2 C

              Apero 2 S

              末級透鏡

              靜電

              復合

              高真空

              15kV

              0.9nm

              0.5nm

              1kV

              1.0nm

              0.8nm

              500V

              1.2nm

              0.8nm

               

              加速電壓范圍:200V ~ 30kV

              著陸電壓范圍:200eV ~ 30keV

              探針電流范圍:1pA – 50nA,連續可調(可升級400nA)

              樣品室:從左至右為340mm寬的大存儲空間,樣品室可拓展接口數量12個,含能譜儀接口3個(其中2個處于180°對角位置)

              樣品臺:五軸優中心全自動馬達驅動X=110 mm,Y=110 mm,Z=65 mm,T=-15º~90º,R=360º (連續旋轉)

              多用途SEM樣品安裝載物臺,可同時放置 18 個標準樣品座(φ12mm)

               

              探測器系統:

              樣品室二次電子探測器ETD

              鏡筒內背散射電子探測器T1

              鏡筒內二次電子探測器T2

              鏡筒內二次電子探測器T3(可升級)

              樣品室內IR-CCD紅外相機(觀察樣品臺高度)

              可用于圖像導航的彩色光學相機Nav-Cam+™

               

              控制系統:

              操作系統:Windows 10

              圖像顯示:24寸LCD顯示器,顯示分辨率1920×1200

              支持用戶自定義的GUI,可同時實時顯示4幅圖像

              軟件支持Undo和Redo功能

               

               

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